| 晶振是各種電子產(chǎn)品里面的核心頻率元器件,我們在選購的時(shí)候需要準確的知道:尺寸、頻率、負載電容（pf）、精度（ppm）.很多時(shí)候我們容易忽略負載電容要求.其實(shí)負載電容的要求對于我們來(lái)說(shuō)非常重要.數值不同給我們的產(chǎn)品所帶來(lái)的效果也截然不同.
負載電容是指晶振的兩條引線(xiàn)連接IC塊內部及外部所有有效電容之和,可看作晶振片在電路中串接電容.負載頻率不同決定振蕩器的振蕩頻率不同.標稱(chēng)頻率相同的晶振,負載電容不一定相同.因為石英晶體振蕩器有兩個(gè)諧振頻率,一個(gè)是串聯(lián)揩振晶振的低負載電容晶振：另一個(gè)為并聯(lián)揩振晶振的高負載電容晶振.所以,標稱(chēng)頻率相同的晶振互換時(shí)還必須要求負載電容一致,不能冒然互換,否則會(huì )造成電器工作不正常.把電能轉換成其他形式的能的裝置叫做負載.
晶振負載諧振頻率測量方法:
1. 物理負載電容法
如IEC 444標準所述,該方法的基本概念是用一個(gè)實(shí)際電容與晶振串聯(lián),然后在指定負載電容下測量晶振,并對兩者同時(shí)進(jìn)行測量.這與計算法相比是一個(gè)很大的改進(jìn),因為沒(méi)有過(guò)多估計,而且網(wǎng)絡(luò )分析儀是在相對較低的阻抗上測量負載諧振頻率.
2. 計算法
根據IEC 444規定,被測器件(DUT)在約±45°對其動(dòng)態(tài)參數進(jìn)行測量,負載諧振頻率根據±45°數據“計算”得到.
如果已經(jīng)知道被測器件是一個(gè)線(xiàn)性晶振,則可以使用這個(gè)方法來(lái)測量;但在大多數場(chǎng)合下,需要先有一個(gè)測試方法來(lái)告訴你它是否是線(xiàn)性的,所以計算法不實(shí)用,除非你在測試前已經(jīng)知道晶振是線(xiàn)性的.
從晶振測量角度來(lái)看,計算法不適用于測試非線(xiàn)性晶振,因為測量精確度取決于晶振特性,而它的差異很大,如果存在其它適用的測試手段就應該放棄使用這種方法. |
